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美国TSI 扫描电迁移率粒径谱仪(SMPS-3938)
产品详情TSI 的扫描电迁移率粒径谱仪广泛用于测量空气中的颗粒尺寸分布的标准。这一系统也经常用来使悬浮在液体中的颗粒的颗粒尺寸的测量精度。美国国家标准与技术研究所( NIST )使用一个 TSI
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美国TSI 扫描电迁移率颗粒物粒径谱仪(SMPS-3936)
静电分级器来测量颗粒物尺寸,并采用凝聚粒子计数器(CPC)来测定颗粒物的浓度。SMPS系统的主要优点有: 快速结果:在60s甚至更短的时间内完成颗粒物粒径分布的扫描; 高分辨的数据:扫描是连续的
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SMPS+C 扫描电迁移率粒径谱仪
产品介绍SMPS+C扫描电迁移率粒径谱仪(Scanning Mobility Particle Sizer)是一个纳米颗粒粒径谱分析系统,实验室型由DMA+CPC5416组成检测系统,19’机架式由
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U-SMPS 扫描电迁移率粒径谱仪
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U-SMPS 扫描电迁移率粒径谱仪
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SMPS+E 扫描电迁移率粒径谱仪
产品介绍SMPS+E扫描电迁移率粒径谱仪(Scanning Mobility Particle Sizer)是一个纳米颗粒粒径谱分析系统,由DMA+FCE组成。DMA(Differential
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扫描电迁移率粒径谱仪-扫描电迁移率粒径谱仪的优缺点
扫描电迁移率粒径谱仪SMPS+C和SMPS+E双系统GRIMM SMPS+C系统采用传统的差分电迁移率粒径分级器(DMA)和凝聚核粒子计数器(CPC)技术结合,两种不同型号的DMA可以同时检测5
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扫描电迁移率颗粒物粒径谱仪
产品。它采用一种静电分级器来测量颗粒物尺寸,并采用凝聚粒子计数器(CPC)来测定颗粒物的浓度。SMPS系统的主要优点有: 快速结果:在60s甚至更短的时间内完成颗粒物粒径分布的扫描; 高分辨的
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美国TSI 纳米颗粒粒径谱仪3910
NanoScan SMPS纳米颗粒粒径谱仪 - 3910型产品详情TSI 3910 型NanoScan SMPS 打开纳米颗粒粒径常规测量的大门。此粒径谱仪将TSI 公司的SMPSTM 粒径谱仪集成
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SEMS扫描电迁移率气溶胶粒谱仪
SEMS扫描电迁移率气溶胶粒谱仪 BMI的SEMS扫描电迁移率粒谱仪能提供快速粒径分布测量,是极好的能够产生单分散校准气溶胶的设备。 0.01µm~2µm粒径粒子筛选的
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